泰勒白光干涉表面輪廓儀介紹：

Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測(cè)量表面形貌、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸，并計(jì)算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器件，半導(dǎo)體器件，光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)。創(chuàng)新的**相關(guān)相干算法，通過建立模板，能夠計(jì)算出帶光源相干峰與相位的位置。無論是拋光表面還是粗糙表面，只要反射率超過 0.5%，就能夠被檢測(cè)。在非接觸表面三維測(cè)量中，CCI2000以100μm范圍內(nèi)0.1nm的高分辨帶來不凡的立體成像效果。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

高精度、低噪音、百萬數(shù)據(jù)點(diǎn)、數(shù)字技術(shù)，泰勒霍普森公司白光干涉儀的問世，宣告著微 觀世界表面三維形貌時(shí)代到來。對(duì)于光學(xué)、半導(dǎo)體、微納米機(jī)械、汽車、醫(yī)藥、軸承等工業(yè) 而言，如果您需要非接觸的方法來檢測(cè)物體的三維表面形貌、表面粗糙度、臺(tái)階高度、微觀 三維尺寸，CCI2000 提供了完美的側(cè)向精度、納米級(jí)的分辨率、非接觸測(cè)量、三維形貌顯示， 是您理想的選擇。每當(dāng)需要進(jìn)行非接觸式高精度計(jì)量的理想方法來進(jìn)行粗糙度，臺(tái)階高度或微觀尺寸測(cè)量時(shí)，泰勒·霍普森（Taylor Hobson）都能提供您期望的結(jié)果。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率，可為光學(xué)，MEMS，半導(dǎo)體，汽車，醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無損3D測(cè)量。

數(shù)據(jù)分析工具  。 以新參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示。  。 面積與體積參數(shù)  。 二維參數(shù) 120 個(gè)  。 三維參數(shù) 40 個(gè)  。 數(shù)據(jù)處理  。 自動(dòng)的臺(tái)階高度計(jì)算   可溯源的結(jié)果 。 我們采用可以溯源的樣塊，對(duì)側(cè)面方向與垂直方向進(jìn)行標(biāo)定。  。 對(duì)于我們所測(cè)量的幾何的，空間的各種數(shù)據(jù)，都可以得到認(rèn)證。

關(guān)于英國(guó)泰勒：

        篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理英國(guó)泰勒粗糙度儀、輪廓儀、粗糙度輪廓儀、圓度儀、圓柱度儀等精密測(cè)量?jī)x器。英國(guó)泰勒霍普森Taylor Hobson隸屬于美國(guó)阿美特克AMETEK集團(tuán)，是不斷創(chuàng)新的精密計(jì)量領(lǐng)域的世界**者，杰出的聲譽(yù)源自100多年的計(jì)量設(shè)計(jì)和精密制造工程經(jīng)驗(yàn)。代表著表面粗糙度及形狀計(jì)量學(xué)領(lǐng)域的高精度等級(jí)的計(jì)量水平，并為眾多應(yīng)用領(lǐng)域提供接觸和非接觸測(cè)量解決方案。英國(guó)泰勒擁有大量以發(fā)明**為代表的知識(shí)產(chǎn)權(quán)，同時(shí)仍保有大規(guī)模的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和高額資金投入。并且不斷將科研成果應(yīng)用于新產(chǎn)品的開發(fā)和改進(jìn)，使其更加*地服務(wù)于用戶。